详细介绍：

主要特性

可扩展架构-随时添加更多测量站

绝对波长精度+/-0.002nm

每个测量站最多有128个检测通道

远端激光光源最多可有8个测量站共享

高速扫描（可有客户控制），速度高达40nm/s

灵活、便于使用的软件

通过动态链路库（DLL）实现订制应用

每天24小时，每周7天服务和支持

应用

研发和制造环境中光学器件和模块的特性确定

-Roadm、波长开关、波长阻断器

-电路板

-密集波分复用器（DWDM）

-可调谐滤波器、耦合器、分路器、开关、衰减器、光纤光栅（FBG）、光交错梳妆滤波器

二向色滤光片

-微机电系统（MEMS）和波导器件

-符合IEC 61300-3-29、IEC 61300-3-12

波长扫描系统SWS2000系 列是插入损耗（IL）、极化依赖性损耗（PDL）、回波损耗（RL）和方向性的行业标准解决方案，在研发与开发以及制造环境中都能达到较高的波长分辨率。 目前已有80多家客户采用SWS测试平台，共部署了8500多检测通道，用于验证最新的光学器件和模块的光学性能，包括ROADM、波长开关、可调谐滤波 器和电路板。SWS系统由一个可调谐激光源、一个光源模块、一个控制模块、一个接收器机框、一个或多个检测模块以及应用软件组成。

SWS2000 在整个1520-1630nm范围内的绝对波长精度+/-0.002nm，扫描速度高达40nm/s，动态范围>70dB，以较低的拥有成本实现了 极高的性能；对每一个激光源，分布式基础架构最多可支持8个单独控制的独立测量站。SWS系统最初一般是作为一种研发工具购买，其测量站数目的可扩展性让 客户能实现设备从研发部门到制造部门的灵活过渡。

可提供从已有SWS系统到SWS2000平台的升级包，以保证已有SWS用户从已有的基础架构中获得最大的效益。